以下内容简述了温度测量中常见的系统误差与不确定度的来源,每一种来源可能有多个不确定度分量。

A3.1 参考温度计校准

A3.1.1 参考温度计校准证书上各参量所给定的不确定度均需考虑。

A3.2 测量仪器

A3.2.1 任何在测量时使用的电学或其他仪器 (例如：标准电阻器、电桥及数字多用表) 校准证书中给出的不确定度。

A3.3 其他影响量

A3.3.1 使用参考温度计在温度测量中附加的不确定度有：

⑴ 参考温度计及任何附带的测量仪器自上次校准以来的漂移；

⑵ 读数的分辨力，玻璃温度计和数字温度计会比较显著；

⑶ 热环境(如：恒温槽)的不稳定性与温度梯度，包括任何参考标准实际使用中的浸入方式、位置等与其校准时差异的情况；

⑷ 当使用铂电阻温度计作为参考标准时，任何由于自热效应（self-heating effects）所产生的不确定因素应予以考量。这种情况主要适用于如果测量电流不同于校准时的电流及／或测量条件（例如在空气中或在搅拌过的液体中）。

A3.4 被校温度计附带因素

A3.4.1 可包括A3.3中提到的其他影响量和附带电子式指示器所产生的因素。当部份浸入式玻璃温度计校准时，虽然露出的液面温度已经测量，但由于浸入深度不同所产生的额外不确定度应考虑。

A3.4.2 热电偶校准时，补偿导线及参考接点所产生的任何不确定度应考虑，开关旋钮与扫描单元所产生任何热电动势对结果的影响应予以评估。被校准热电偶的不均匀性会产生显著的影响，理想情况下，可通过改变热电偶在检定炉浸入的深度来评估。但这种做法通常不太实用，可以按特定类型热电偶最大允许误差的20%来评估。

A3.5 数学内插法

A3.5.1 由数学内插法（例如：采用刻度修正或偏离参考表，或考虑标度非线性的拟合曲线）引入的不确定度应进行评估

A4 尺寸校准过程不确定度的来源

以下内容简述尺寸校准中常见的系统误差与不确定度的来源。

A4.1 参考标注与仪表

A4.1.1 给定参考标准及校准用到的测量仪器的不确定度。

A4.2 参考标准与仪表的长期稳定性

A4.2.1 应考虑随时间产生的变化，通常用参考仪器设备的历次校准数据来评估，尤其是当仪器正常操作可能产生物理磨损时需要特别注意。

A4.3 温度效应

A4.3.1 被校准的量规与参考标准及使用的测量仪器间的温度差异所产生的不确定度应予以考虑，当长度较长以及涉及不同材质时最为明显。当可能对温度效应进行修正时，应考虑由采用的膨胀系数值的不确定度与测量温度计校准的不確定度所获得的残余不确定度。

A4.4 弹性压缩

A4.4.1 被校准的量规与参考标准材质间对于弹性压缩的差异所产生的不确定度，在高精密校准及不同材质的情况下可能更为明显，影响量的大小与使用的测量力以及与接触量规及参考标准的测头性质有关。当可以进行数学修正时，测量结果会包含由测量力和所涉及材料性质的不确定度产生的残余不确定度。

A4.5 余弦误差

A4.5.1 任何被校准的量规或使用的参考标准相对于测量轴有任何未对准时，会造成测量的误差，该误差通常称为余弦误差，可以通过调整量规对应于测量轴的方位找到适合的转折点以得到最大或最小结果从而将余弦误差差降到最低。小的残余误差可能还是会存在，例如，对有关数据对准的任何特征所做的不正确的假设。

A4.6 几何误差

A4.6.1 被校准的量规、使用的参考标准或用来测量的仪器之间关键特征（critical features）在几何上的误差，会产生额外的不确定度。典型的几何误差包括有测头端的平面度或球度，用来作为基准面特征表面的直线度、平面度、平行度或直角度，及圆柱量规或参考标准的圆度或锥度。该误差通常在于错误的假设完美几何形状，及在选择的测量方法未能获得、抑制或考虑到几何误差时最为显著。