环境与可靠性

温度冲击

温度冲击试验是指把试样暴露在温度突变或渐变的环境中进行的试验。温度冲击试验目的是为了在较短的时间内确认产品特性的变化，以及由于构成元器件的异种材料热膨胀系数不同而造成的故障问题。这些变化可以通过将元器件迅速交替地暴露于超高温和超低温的试验环境中观察到。

　　本公司拥有200L的温度冲击试验箱和不同容积的温度试验箱，可提供温度为-100℃～200℃的温度，可在1min～5min以内达到温度转换。满足不同样品温度冲击试验。

　　主要参考标准：

　　GB/T 2423.22-2012电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化

　　GJB150.5-86 军用设备环境试验方法温度冲击试验

　　GJB150.5A-2009军用装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验

　　GJB360B-2009电子及电气元件试验方法

温度冲击试验

序号

设备名称

温度冲击试验设备图片

设备主要技术能力

温度冲击试验箱

有效容积

30m³（0.6m×0.55m×0.6m）

温度范围：-60℃～150℃

转换时间：1min